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光波干渉計とは?

こうはかんしょうけい

光の波の重ね合わせ(干渉縞)を利用して、波長以下の超微小な距離や変位を計測する精密測定装置です。

光波干渉計は、コヒーレントな光を分割してそれぞれ異なる経路を通過させ、再合成時に生じる干渉縞パターンから光路長差を計算することで、サブナノメートル精度の距離・表面形状・屈折率の計測を行う装置である。マイケルソン干渉計・ファブリ・ペロー干渉計・フィゾー干渉計など種類があり、光学素子・半導体・重力波検出まで幅広く使われる。

使い方・例文

半導体ウエハーの表面平坦度を光波干渉計で計測し、ナノメートルオーダーの凹凸分布をマッピングした。

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